一種光學三維形貌測量方法，先按照實際測量要求，布置好由投影系統(tǒng)、相機組成的測量系統(tǒng)；然后根據(jù)測量需要設(shè)計條紋圖并由投影系統(tǒng)投影到被測物體表面，被物體反射的條紋圖由相機采樣；再從采樣條紋圖解調(diào)出包裹相位，解包裹后得到條紋圖的真實相位值；然后由遠心鏡頭的放大率、相機像元大小及采樣條紋圖的圖像坐標求解得到被測物體X、Y軸坐標；最后標定得到投影系統(tǒng)的相關(guān)參數(shù)，結(jié)合條紋相位，根據(jù)三角關(guān)系求得被測物體Z軸的坐標；本發(fā)明標定過程簡單，既提高了三維坐標的求解速度又能達到更高的測量精度；一次標定即可保證之后所有測量的使用，效率很高。

背景技術(shù)：S維測量在快速成型、質(zhì)量檢測中有著廣泛的需求。同時，它在逆向工程、醫(yī)療等 領(lǐng)域也有著廣泛應用。傳統(tǒng)的=維測量方法主要是接觸式測量，如=坐標測量機。隨著光學 技術(shù)的進步，光學=維測量技術(shù)得到了長足的發(fā)展，被越來越廣泛地應用到=維測量中。典 型的光學=維測量方法有點激光掃描測量、線激光掃描測量、結(jié)構(gòu)光投影測量及干設(shè)測量 等。其中，基于正弦條紋投影的結(jié)構(gòu)光投影=維測量方法，由于操作便捷、測量精度較高、測 量速度快、適應性好等優(yōu)點，是一種非常優(yōu)越的=維測量手段。
[0003] 正弦條紋投影=維測量輪廓術(shù)需要投影正弦條紋到被測物體表面，反射的條紋圖 像被相機采樣得到，求解采樣條紋相位后，結(jié)合標定得到的測量系統(tǒng)參數(shù)，即可由相位恢復 被測物體的=維形貌。現(xiàn)有的正弦條紋投影=維測量輪廓術(shù)具有W下特點：投影的正弦條 紋圖的相位在整個圖像平面內(nèi)沿某一方向呈線性變化;在由單相機-單投影儀構(gòu)成的測量 系統(tǒng)中，相位到被測物體=維形貌的轉(zhuǎn)化總會用到由投影光線與相機采樣光線之間構(gòu)成的 =角關(guān)系，很多情況下需要一個參考面，=維求解過程復雜。